电动汽车MCU生产线老化及EOL离线功能测试方案：电动汽车控制器（MCU）生产线的老化和线下（EOL）功能测试主要是为了测试组装后MCU的老化和功能。确保MCU的生产质量和0kmppm。该测试系统由两部分组成：MCU老化测试系统和MCU功能测试系统。

测试过程易于操作，以满足生产节拍和生产线运行的要求。可以跟踪并保存所有测试数据，并且可以打印出每种产品的测试数据表。

新能源汽车电机控制器（MCU）生产线老化和EOL离线功能测试系统应包括：单片机自动连接系统，可以实现水路与电路的自动连接，降低了人员处理的难度和成本；

自动加载系统实现了电机控制器MCU的指定加载以及对加速度，低速，高速，制动等工作状态的验证；保护功能测试，以验证MCU保护电路的功能；

电气安全测试，达到国家标准规定的测试；内部诊断测试，实现对MCU内部诊断的测试和验证；单片机校准相关功能测试，实现单片机内部功能诊断；自动连接MES系统，实现MES交互和控制，并上传和交互测试结果。其他安全保护功能。

这类测试MCU的测试，在安装之前，也必须做芯片的老化测试，以及烧录，FT测试等，这些都需要测试座的辅助测试，自动化匹配的话就需要使用下压类测试座，手动和自动都可以使用，同时老化的话，也是ok的，这种测试座就很有性价比，同时这种测试座在国内市场上有现货可以使用，例如QFP封装，QFN封装，SOP封装等，都是可以以很便宜的价格买到。