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图2.高分辩光学链路诊断系统(OCI)
硅发射芯片重要组件有一维光栅耦合器、可变光衰减器、强度调制器和偏振调制器。将芯片和OCI联结,施行反射率散布衡量。图3.硅发射芯片在10μm空间分辩率下赢得测试结束,硅发射器芯片内部呈现几个反射峰。光栅序号与对应通道序号雷同。为断定反射峰场所,在调制器上施加记号,对反射峰的变动情形施行视察和解析。OCI实行对芯片内各器件的辨别、定位及回损的衡量。图4.OFDR测试结束硅光测试畛域,OFDR能够马上详悉衡量光纤与芯片耦合点本能、芯片内部各器件花费情形以及各个器件之间的渺小间隔能否切合安排请求。硅光进展日趋老练,OFDR的商场也正在逐突变大,硅光芯片、光器件、光模块厂家大多都须要用OFDR来探测其产物本能参数能否切合安排以及产物的品德把控。END即使您认为这篇文章有成果,迎接点赞在看!预览时标签不成点收录于合集#个