关键词：记号完备性、测试

纲要：本样板详细阐述了单板记号品质测试的法子。个中包含各样记号波形参数的界说，停止记号品质测试的前提，笼罩界限，及格准则，记号分类，各样记号波形参数的目标，测试点的抉择以及测试成绩剖析要点。

缩略语清单：

SISignalIntegrity记号完备性

TTLTransistor-TransistorLogic晶体管-晶体管逻辑

CMOSComplementaryMetalOxideSemicondutor互补金属氧化物半导体

LVTTLLowVoltageTTL低电压ＴＴＬ

LVCMOSLowVoltageCMOS低电压ＣＭＯＳ

ECLEmitterCoupledLogic发射极耦合逻辑

PECLPseudo/PositiveEmitterCoupledLogic伪发射极耦合逻辑

LVDSLowVoltageDifferentialSignaling低电压差分记号

GTLGunningTransceiverLogic射电收发逻辑

HSTLHigh-SpeedTransceiverLogic高速收发器逻辑

eHSTLEnhancedHigh-SpeedTransceiverLogic巩固高速收发器逻辑

dHSTLDifferentialHSTL差分HSTL

SSTLStubSeries-terminatedLogic线足系列末端逻辑

SPISerialPeripheralInterface串行外围接口

I2CInterIntegratedCircuitBus内部集成电路总线

USBUniversalSerialBus通用串行总线

1、引言

《记号品质测试样板》是为了样板和疏导硬件调试、硬件测试以及临盆测试时记号品质测试法子及设施，在归纳恒久现实劳动阅历的底子上拟订的。

2、实用界限

本样板做为研发、中试停止记号品质测试的配合准则。

本样板实用所罕见字记号的调试、测试流程。测试时应笼罩各个功用模块，包含电源、时钟、复位电路、CPU最小系统、外部接口（E1、网口、串口等等）、逻辑芯片(CPLD/FPGA)、专用电路等等。

摹拟电路由于其记号的连结改变性，不能直接运用本样板，可酌情参考。

本文档不包含的实质：非记号品质测试实质。比如不实用于部份硬件接口目标测试，系统硬件规格测试、处境测试、EMC测试、安规测试、防备测试、振荡测试等。

3、记号品质测试概括

3.1记号完备性的观点

如今的高速数字系统的时钟频次大概高达数百兆Hz，其快斜率瞬变和极高的劳动频次，以及很大的电路聚集度，势必使得系统体现出与低速打算大相径庭的动做，涌现了记号完备性题目。毁坏了记号完备性将直接致使记号失真、准时过失，以及形成不确实数据、住址和操纵记号，进而形成系统误劳动以至致使系统崩溃。因而，记号完备性题目曾经越来越引发高速数字电路打算人员的

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