据麦姆斯咨询报道，光电传感器表征专家光焱科技（Enlitech）日前推出全球第一套商业标准化的最新型单光子探测器(SPD,SinglePhotonDetector)特性测试分析设备SPD。光焱科技整合了所有先进光学与电学系统，提供完整与便利的软件控制接口与分析功能，助力客户加速直接飞行时间（dToF）单光子雪崩二极管（SPAD）产品的开发周期，提升竞争力。

测试分析

SPD具备的全光谱性能测试包含：-全光谱光谱响应(SR,SpectralResponsivity)-全光谱量子效率(EQE,ExternalQuantumEfficiency)-全光谱光子探测率(PDP,PhotonDetectionProbability)-暗计数DCR(DarkCountRate)-崩溃电压BDV(Break-DownVoltage)

在不同电压下，SPAD光子探测效率的PDE光谱

SPAD的暗计数与偏压关系图

SPAD暗计数与崩溃电压

SPD亦能够测试SPD的单光子辨析特性分析，包含：-Jitter-Afterpulsingprobability-Diffusiontail-SNR

SPAD的Jitter测量

适用范围

SPD适用各种传感器测试分析，包含：-SPAD-SPD(SinglePhotonDetector)-SiPM(SiPhotoMultiplier)-MPPCs(Multi-PixelPhotonCounter)-dToFLightSensor-LiDARSensor-WaferLevelSPAD关于光焱科技(Enlitech)

Enlitech成立于年，专注于人造模拟光源与光谱分析技术。针对光电传感器，提供先进、定制化的测量解决方案，致力于提升光电传感器的性能，促进科技的进步与人类生活的改善。我们提供多种标准光源与测试分析解决方案，包含：(1)航天级图像传感器表征分析系统；(2)CMOS图像传感器/CIS相机模块特性检测；(3)光学屏下指纹识别测试方案；(4)晶圆级图像传感器测试解决方案；(5)单光子探测器的测试解决方案。我们让传感器变得更好，欢迎与我们联系!

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